X射线衍射仪(XRD)

  粉末X射线衍射剖析仪由单色X射线源、样品台、测角仪、探测器和X射线强度丈量体系所组成。Cu(Mo)靶X射线发生器宣布的单色X射线经过入射soller狭缝，发散狭缝照耀样品台，X射线经试样晶体发生衍射，衍射线经出射狭缝，散射soller狭缝，承受狭缝被探测器检测。X射线管发射的X射线照耀晶体物质后发生吸收、散射、衍射X荧光、俄歇电子和X电子。晶体中原子散射的电磁波相互干与和相互叠加而发生衍射图谱。X射线粉末衍射图谱能够给我们供给三种晶体结构信息：衍射线方位（视点）、强度和形状（宽度），根据这一些信息能够进行晶体结构剖析、物相定性及定量剖析和晶粒大小剖析等。

  金属资料剖析：了解资料的化学成分，如各种钢及合金、铝合金、镁合金、钛合金、铁合金等。

  陶瓷资料剖析：剖析陶瓷质料成分的纯度、烧制反应物成分、以及各种陶瓷的定性定量剖析。

  高分子资料剖析：剖析聚合物中各种增加元素如Al、Mg、P、Ca、Ti、Cu等；剖析塑料中有害成分；剖析聚合物外表镀膜及化学处理成分等。

  催化剂资料剖析：剖析催化剂中微量元素，剖析催化剂的组成。矿藏资料剖析：剖析各种矿藏资料的组成、稳定性、质料的真伪等。剖析进展