新品上市_XTRA Companion 高阶常规分析型台式XRD

  。采用先进的硬件配置和科学技术手段来确保其准确性、精确性、安全性和易用性，这款仪器很适合Rietveld 常规分析和质量过程控制（QA/QC）。此外，该仪器配备了“一键（one-click）操作” 数据处理软件，在实现操作简单便捷的同时，还保证了测试结果的高度可靠性。

  ARL XTRA Companion X 射线衍射仪的部件安装在符合国际安全标准的X射线的屏蔽舱中，并配有防辐射铅玻璃窗、工作状态指示灯和安全联锁装置。

  针对所有可能的使用环境，ARL XTRA Companion 进行了设计优化，从而可以有明显效果地地抵御外部冲击或振动的干扰。

  ARL XTRA Companion 的θ/θ 测角仪使用超紧凑结构设计，并采用带光学编码器的步进电机，以确保极其精确的角度定位和重现性。

  ARL XTRA Companion 标配2维半导体像素探测器，对位置、能量和时间具备高灵敏度；采用经典的信号探测模式，通过高速精准的信号采集，确保了分析数据的高质量。

  ARL XTRA Companion 为所有类型的压制样品（Polysius、Hertzog、其他压制颗粒），提供各种专用解决方案，以便完全满足多种的分析要求，从而使得数据质量得以提升优化。

  ARL XTRA Companion 配备了一款可靠且易于使用的分析软件，该软件能快速便捷地提取数据信息，充分挖掘数据潜力。

  ARL XTRA Companion 的数据可以很便捷地与XRF 数据进行结合分析，以获得更好的分析解释和结果的准确性。

  和定量分析的理想仪器。ARL XTRA Companion 的工作功率为600瓦（铜靶或钴靶），并可提供集成水冷系统，用机械狭缝、索拉狭缝和可变光束刀等技术来确保光束在径向和轴向的准直得到精确控制。ARL XTRA Companion 的模块化设计允许用户更换预先校准的样品台，而无需冗长的重新校准程序。标准样品台集成了高精度控制装置，可以精确地定位样品台相对于测角仪的平移和旋转方向，这使得衍射仪可以在几分钟内就能完成针对新样品类型的重新设置。ARL XTRA Companion 使用先进的固态像素探测器（55x55µm），可提供非常快速的高分辨率数据收集，并具有“一键操作（one-click）” Rietveld量化功能，并能将结果自动传输到LIMS。

  （XRF）分析确定样品的元素组成，但没办法提供关于各种元素是如何结合在一起的信息。这种矿物学信息只可以通过X射线衍射仪（XRD）获得。在典型的晶体样品中，XRF可以测量例如总Ca浓度或总Fe浓度。XRD允许分析晶体材料如岩石、矿物和氧化物材料和产品中的物相或化合物。因此，针对同一样品中，XRD 可以有效的进行深入分析，以给出关于CaO、CaCO3、Ca(OH)含量和其他Ca相或Fe 相的含量信息，例如FeO、Fe2O3、Fe3O4、Fe3C和其他Fe相。因此，将XRF和XRD技术相结合，就可以对任何给定的结晶样品进行更好且更全面地表征。

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