单波长XRF如何在稀土领域“精准发力”？安科慧生走访侧记

  安科慧生推出新一代手持式XRF仪，融合单波长技术与全息基本信息参数法，实对稀土元素快速精准检测，助力出口管制与产业链安全。

  在稀土元素快速检验测试领域，X射线荧光光谱（XRF）技术因其非破坏性、多元素同步分析等特性，已成为行业重要的分析手段。然而，由于稀土元素化学性质高度相似，传统XRF技术在应用中仍面临激发效率偏低、谱线重叠干扰等技术挑战。安科慧生科技（北京）有限公司（以下简称安科慧生）通过单波长XRF技术与全息基本信息参数法（Holospec FP 2.0）的深层次地融合，为稀土元素快速精准分析提供了创新解决方案。近日，仪器信息网走进安科慧生，对话其总经理滕飞先生，探访其技术突破与行业应用实践。

  稀土作为关键战略性矿产资源，其监管与检测需求持续升级。近期，对钐、钆、铽、镝、镥、钪、钇等7类中重稀土相关物项实施出口管制。这一政策对监管系统提出了更加高的要求，亟需能快速、高效检测中重稀土元素的科学仪器支撑。相比ICP-OESICP-MS等实验室分析方法，便携式XRF更适用于现场稀土元素的快速分析。安科慧生作为专注X射线荧光技术研发的企业，迅速响应行业需求，推出针对性解决方案。

  在2025年美国波士顿国际实验室分析仪器展览会（Pittcon） 上，安科慧生正式对外发布了新一代手持式X射线荧光光谱仪——傲世派®（Alioth-π）。这次走访中，笔者也有幸在实验室参观中见到工作人员演示Alioth-π检测稀土样品的操作的流程。演示过程分别采取了“手持仪器”和“固定仪器”两种办法来进行稀土元素测试，从打开操作箱到恢复原样，全程仅花费3分多钟，展现了高效的现场检测能力。

  XRF技术的核心优点是快速、无损，而单波长XRF技术在稀土元素分析中更具针对性。其通过单色光激发，大大降低连续散射线背景干扰；同时可选择性激发特定能段元素，配合偏振消光光路设计，逐步提升信号纯度。不仅如此，安科慧生自主研发的双曲面弯晶单色化聚焦系统，与SDD（硅漂移探测器）协同工作，实现了对稀土元素K线系的完全分辨，并通过滤光片切换实现全元素能量段分段激发，保障了稀土合金样品中各元素的高精度测定。

  针对传统XRF定量分析中常见的基体效应、元素间吸收增强效应及谱线重叠干扰等问题，安科慧生推出软件核心技术——全息基本信息参数法（Holospec FP 2.0）。该技术基于十余年研发积累，构建了涵盖X射线光管原级射线谱、样品入射/出射X射线谱、探测器响应谱等全流程的数字化物理模型，结合先进数学模型（Advanced MM），实现了对复杂基质样品中待测元素的精准定量。作为XRF领域的核心算法，全息基本信息参数法的突破为复杂样品分析提供了可靠的理论支撑。

  目前，安科慧生正积极地推进与海关、全国稀土标准化技术委员会的合作，参与稀土分析方法开发及国家标准制定，进一步巩固其在稀土检验测试领域的技术优势。其牵头参编的国家标准《稀土铁硼烧结永磁体晶界扩散效果评价方法》已进入标准审批阶段，预计将于年内正式对外发布。通过技术创新与应用拓展，安科慧生正为稀土资源的高效监管与精准分析提供更坚实的科技支撑。

  稀土资源安全作为国家战略安全的核心构成，其开发、贸易全链条的精准化监管必然的联系到产业链稳定与自主可控能力。XRF技术在稀土检验测试领域的突破性提升，通过精准定量能力为稀土产品成分合规性提供了可靠保障，同时为国家稀土资源安全构筑起坚实的技术屏障。这一技术突破不仅强化了出口管制政策的执行效能，更为新能源、航空航天等高端制造领域构建了自主可控的原材料检测体系。